Формула Шарвіна
Формула Шарвіна — математичний вираз для опору балістичного контакту в формі отвору малого діаметра d << l у непрозорій для електронів перегородці, де l — мінімальна (щодо пружних або непружних зіткнень) довжина вільного пробігу .[1] Формула вперше була отримана Юрієм Васильовичем Шарвіним в 1965 р.[2]
Формула Шарвіна | |
Названо на честь | Шарвін Юрій Васильович |
---|---|
Дата публікації | 1965 |
Формула |
Якісне пояснення
Електричний контакт називають балістичним, якщо його розміри істотно менше довжини вільного пробігу l. Найпростішою моделлю такого контакту є модель круглого отвору діаметром d, набагато меншим довжини l, у нескінченно тонкої діелектричній перегородці між двома масивними металами (берегами контакту), до яких прикладена різниця потенціалів V. Електрони, що потрапили в отвір, вільно проходять через нього і створюють електричний струм. Електрони, що зіткнулися з перегородкою, відбиваються назад у той же берег і не беруть участь в процесі провідності. Шарвін зауважив, що балістичний опір такого контакту визначається областю металу з характерним об'ємом і за порядком величини збігається з опором циліндра діаметром d і довжиною l:[2]
(1)
де — питома електропровідність металу, n — щільність носіїв заряду в металі, e — заряд електрона, — Фермі — імпульс. Формулу (1) часто називають опором Шарвіна.[3] Опір (1) не залежить від довжини вільного пробігу і визначається тільки характеристиками електронного спектра і геометрією контакту.
Теорія
Опір Шарвіна для довільного закону дисперсії електронів в металі може бути обчислено за допомогою рішення кінетичного рівняння Больцмана для квазікласичної функції розподілу з граничною умовою її рівноважности далеко від контакту. У балістичній границі рівняння не містить інтеграли зіткнень електронів з домішками, фононами та ін. Результат обчислень при малих напругах (наближення закону Ома) має такий вигляд[4] :
(2)
де — площа контакту довільної форми, — площа поверхні Фермі, і — паралельна осі контакту складова швидкості електрона і її абсолютне значення, означає усереднення за частиною поверхні Фермі, на якій . Для круглого отвору і сферичної поверхні Фермі формула (2) призводить до результату:[5]
(3)
що відрізняється від результату (1), отриманого за допомогою найпростіших якісних міркувань, лише постійним числовим коефіцієнтом.
Використання формули
Балістичні контакти, опір яких описується формулою Шарвіна, є важливим інструментом фізичних досліджень. Дослідження вольт-амперних характеристик мікроконтактів і їх похідних покладено в основу мікроконтактної спектроскопії взаємодії електронів з бозонними збудженнями провідника.[6][7] Вона використовується при розрахунку провідних характеристик гранульованих провідників, в яких контакти між окремими гранулами в багатьох випадках добре описуються формулою Шарвіна. За допомогою формули Шарвіна може бути розрахований критичний струм джозефсонівських слабких зв'язків у вигляді мікромостків між двома надпровідниками.[8]
Література
- László Mihály, Michael C. Martin. Solid State Physics: Problems and Solutions, John Wiley & Sons. 2009. ISBN 352740855X, 9783527408559
- Шарвин Ю. В. Об одном возможном методе исследования поверхности Ферми. ЖЭТФ, 1965, 48, вып. 3, с. 984—985.
- M. J. M. de Jong Transition from Sharvin to Drude resistance in high-mobility wires Phys. Rev. B 49, 7778 DOI:https://doi.org/10.1103/PhysRevB.49.7778
- Кулик И. О. Омельянчук А. Н. Шехтер Р. И. Электропроводность точечных микроконтактов и спектроскопия фононов и примесей в нормальных металлах. ФНТ, 1977, 3, № 12, с. 1543—1558
- Янсон И. К. МИКРОКОНТАКТНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОН-ФОНОННОГО ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ В ЧИСТЫХ .МЕТАЛЛАХ. ФНТ (1983) Т.9, № 7 С.676 — 709.
- Yu. G. Naidyuk, I. K. Yanson, Point-contact spectroscopy — Springer, New-York, 2005. ISBN 978-0-387-21235-7
- A. V. Khotkevich, I. K. Yanson, Atlas of Point-Contact Spectra of Electron-Phonon Interaction in Metals — Kluwer Academic Publishers, Boston, 1995. ISBN 978-0-7923-9526-3
- И. О. Кулик, А. Н. Омельянчук. Эффект Джозефсона в сверхпроводящих микромостиках: микроскопическая теория. ФНТ, 1978, Т.4, № 3 С. 296—311